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Noble T7型全譜直讀光譜儀
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Noble T7型全譜直讀光譜儀

Noble T7全譜直讀光譜儀可快速的對固體金屬樣品進行分析。無論從痕量元素,還是到高濃度的元素,它都能準確、可靠的分析,特別是深紫外區(qū)的非金屬元素檢測精度較高。杰博公司在行業(yè)內多年的積累,針對有大量金屬分析需求的冶煉行業(yè)和實驗室,設計了這款新的、性能優(yōu)越的全譜直讀火花光譜儀,可滿足客戶在冶煉、汽車、航空航天、消費品等眾多行業(yè)的生產需求。
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  • Noble T7型全譜直讀光譜儀產品介紹

 Noble T7全譜直讀光譜儀可快速的對固體金屬樣品進行分析。無論從痕量元素,還是到高濃度的元素,它都能準確、可靠的分析,特別是深紫外區(qū)的非金屬元素檢測精度較高。杰博公司在行業(yè)內多年的積累,針對有大量金屬分析需求的冶煉行業(yè)和實驗室,設計了這款新的、性能優(yōu)越的全譜直讀火花光譜儀,可滿足客戶在冶煉、汽車、航空航天、消費品等眾多行業(yè)的生產需求。

1鑄造 1冶金 1機械加工 1消防 1航天航空 1金屬加工 1金屬材料質量鑒定 1新材料開發(fā)

服務
CCD+CMOS
全譜圖
全譜譜線圖
1CMOS全譜分析技術
 豐富的譜線信息,分析靈敏線更多,保證分析的準確度;
 基于全譜測量的數據,能夠正確區(qū)分背景和譜線,有效提高測量精度;
 智能選擇最合適的靈敏線,通過多譜線結合技術,實現低中高含量段的檢測需求;
 基于全譜測量數據的多峰擬合技術,有效消除譜線干擾,實現精確測量。
CMOS產品PCB板光學
                                                            CMOS線陣傳感器        
1實時智能漂移校正技術
 在分析過程中實時進行光譜漂移校正,增強儀器穩(wěn)定性;
 減少標準化校正次數,延長校正周期;
 自動完成儀器校正,操作更加簡便。
漂移校正
                                                                          譜線漂移校正
1獨特的CMOS檢測技術優(yōu)于CCD
 CMOS相比CCD具有更高的靈敏度和響應速度;
 CMOS相比CCD具有更好的線性度;
 CMOS相比CCD具有更高的紫外光敏感度,在深紫外區(qū)如碳、磷、硫、硼、砷、氮等短波元素的檢測更準確。
紫外元素強度對比
                                                                           紫外元素強度對比
 5CMOS全譜接收技術;
  •  5 人性化一鍵激發(fā),一鍵緊急停止;
  •  5 一體化光室光學系統(tǒng)設計;
  •  5 可編程脈沖全數字光源技術;
  •  5 可分析Fe、Al、Cu、Zn、Ni、Ti、Mg、Co等多種基體;
  •  5  波長范圍140-680nm,可滿足更多元素的分析要求。
  •  
  • Noble T7型全譜直讀光譜儀技術參數
 
光學系統(tǒng)
帕型-龍格結構
激發(fā)光源
可編程脈沖全數字光源
電源及環(huán)境要求
工作電源:(220±20)V AC,
(50±1)Hz,保護性接地的單項電源
多片高分辨率CMOS檢測器
高能預燃技術
光柵焦距:401mm